X熒光光譜儀在多種類樣品中，都有著可靠的檢測應用，X熒光光譜儀對陶瓷類樣品的檢測，同樣可獲得準確數據。
X射線熒光法的分析原理是用X射線照射試樣時，試樣會被激發出熒光X射線，不同元素被激發出的熒光X射線的波長（或能量）不同，且射線強度與元素含量成正比。把混合的熒光X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的數值和射線的強度，可以進行定性和定量分析。
X熒光光譜儀的高嶺土分析
X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。作為干法化學分析方法的典型代表，越來越多的陶瓷材料檢測采用X射線熒光分析法進行測定材料的化學成分，主要在于這種方法的快速、準確及操作簡捷。波長色散法的檢測結果非常穩定，無論成分含量的高或低，準確性均符合國家標準要求，檢出限低至0.001%。能量色散法能在同一時間分析出所有元素，具有準確、快速的優點，定量分析稍遜于波長色散法。但在特定范圍內的材料也能獲得滿意的結果，特定元素檢出限可達0.01%。
波長色散X射線熒光測定成分時，重復性較好。無論是主量元素，還是微量元素，其結果都比較滿意。能量色散X射線熒光測定成分時，重復性也較好。但是所檢測的樣品范圍比較窄，如石英、鉀長石、鈉長石、高嶺土樣品能迅速測定，結果較滿意。混合樣品的檢測偏差比較大。