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鍍層的檢測 善用X熒光光譜儀
發(fā)布時間:2023-03-02 點擊:1009

要提高電鍍企業(yè)的實力就必須從企業(yè)的硬件著手,但同時,對于生產(chǎn)企業(yè)來說,其內(nèi)部的管控測試也是不可缺少的環(huán)節(jié),這涉及到多方面,而對鍍層的元素檢測,使用X熒光光譜儀的檢測方法,是行之有效的。

電鍍,就是通過電化學(xué)的方法,將一種金屬或金屬化合物鍍覆到基體上的工藝。電鍍的基本原材料就是鋅、鎳、銅、鉻及金、銀等重金屬。鍍層測量已成為金屬加工業(yè)進(jìn)行成品質(zhì)量檢測必備的重要工序之一,是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。選擇使用X熒光光譜儀解決電鍍行業(yè)的貴金屬檢測需求。

使用X熒光光譜儀的X射線檢測技術(shù),可以達(dá)到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達(dá)到小數(shù)點后四位數(shù),是我國普及型貴金屬檢測技術(shù)的發(fā)展方向。

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X熒光光譜儀的鍍層質(zhì)量檢測

X射線熒光光譜法(XRF)的工作原理是利用X射線激發(fā)被測物體表面,使得其表面原子發(fā)生能級躍遷,利用探測器接收到X射線,然后通過能譜圖對比分析出元素成份。

X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試,厚度的測量范圍視材料和元素而定,通常在1nm-50um之間。X射線熒光光譜法分析鍍層與其常規(guī)定量分析法相比較,被測元素的特征X射線熒光強度不僅與鍍層中待測元素和基材的組成有關(guān),而且與厚度直接相關(guān)。能量色散X射線熒光光譜分析相對其他分析方法,具有無需對樣品進(jìn)行特別的化學(xué)處理、快速,方便,測量成本低等明顯優(yōu)勢,特別適合用于各類相關(guān)企業(yè)作為過程控制和檢測使用。

鍍層的高效檢測方式,X熒光光譜分析儀,幫助生產(chǎn)企業(yè)檢測鍍層元素含量,保證產(chǎn)品質(zhì)量。

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